FT150 シリーズ | 膜厚計 | 日立ハイテクサイエンス

FT150 シリーズ | 膜厚計 | 日立ハイテクサイエンス

蛍光X線膜厚計

FT150シリーズは,小型化・微細化が進む電子部品に対応し,直径100マイクロメートル以下の微小部のメッキ膜厚や組成を迅速・安全・容易に検査する蛍光X線膜厚計

特長

1. X線検出機構の改良により,Au/Pd/Ni/Cu(金/パラジウム/ニッケル/銅)多層メッキの測定でスループットを従来機と比較して2倍以上に向上
2. FT150hでは,新開発のポリキャピラリの採用により,超小型チップ部品(コンデンサや抵抗器など)の電極部のメッキ膜厚測定が可能
3. X線の漏えいリスクが少ない密閉型の筐体と,大きな開口部を持ちながら軽快な開閉ができる試料室扉を採用し,安全性と使いやすさを両立
4. FT150Lでは,最大600×600mmまでの大型プリント基板にも対応

(株)日立ハイテクサイエンス

東京都港区西新橋1-24-14
TEL 03-6280-0062

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    最終更新日:2017年10月19日