蛍光X線膜厚計
FT150シリーズは，小型化・微細化が進む電子部品に対応し，直径100マイクロメートル以下の微小部のメッキ膜厚や組成を迅速・安全・容易に検査する蛍光X線膜厚計
特長
1. X線検出機構の改良により，Au/Pd/Ni/Cu（金／パラジウム／ニッケル／銅）多層メッキの測定でスループットを従来機と比較して2倍以上に向上
2. FT150hでは，新開発のポリキャピラリの採用により，超小型チップ部品（コンデンサや抵抗器など）の電極部のメッキ膜厚測定が可能
3. X線の漏えいリスクが少ない密閉型の筐体と，大きな開口部を持ちながら軽快な開閉ができる試料室扉を採用し，安全性と使いやすさを両立
4. FT150Lでは，最大600×600mmまでの大型プリント基板にも対応
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