AFM5500M | 走査型プローブ顕微鏡システム | 日立ハイテクサイエンス

AFM5500M | 走査型プローブ顕微鏡システム | 日立ハイテクサイエンス

走査型プローブ顕微鏡システム

AFM5500Mは,先端が数ナノメートルに尖ったプローブ(探針)でサンプル表面を走査することにより,ナノレベルでサンプル表面の立体形状観察と物性マッピングを同時に行うことができる装置

(株)日立ハイテクサイエンス

東京都港区西新橋1-24-14
TEL 03-6280-0062

特長

  1. 平行運動をする走査機構を備えた「XY200μm広域フラットスキャナ」を搭載することで,直線性の高い計測を実現し,歪み等を改善
  2. クローズドループ制御の低ノイズ位置センサを装備したことにより,同社従来機と比べ10倍の高精度で3Dプロファイル(表面形状および物性)を取得できる
  3. カンチレバーの装着,光軸調整とレバー振動条件の設定,試料の測定までをユニットに触れることなくワンクリックで自動に行うことが可能で,専用プローブステーションによる測定パラメータ自動調整(RealTune(R) II)と合わせ,オペレーターの負担を大幅に軽減

AFM5500M(走査型プローブ顕微鏡)の資料請求

    icon-file-textお問合せ内容 チェックしてください

    お問合せ内容 チェックしてください
    営業に会いたい見積もりが欲しいカタログが欲しい
    その他のお問合せ入力
    連絡先を入力してください
    お名前 ※必須
    メールアドレス ※必須
    電話番号 ※必須
    貴社名 ※必須
    所属部署
    郵便番号 郵便番号を入力すると途中まで住所が自動入力されます
    都道府県
    住所1 市区町村 ※必須
    住所2 番地(建物名など) ※必須
    その他ご要望

    資料請求かごに入れて一括資料請求


    最終更新日:2017年10月17日