二次イオン質量分析 SIMS･飛行時間型二次イオン質量分析 TOF-SIMS の製品一覧です。各メーカー別に製品を紹介します。二次イオン質量分析 SIMS は収束したイオンビームを固定表面に照射し，スパッタリングにより生じた二次イオンを質量分析して表面を分析する方法です。

走査型プローブ顕微鏡 SPM の製品一覧です。各メーカー別に製品を紹介します。走査型プローブ顕微鏡は深針などのプローブを試料表面に近接して走査し，プローブと試料表面間の電気的，光学的，音響的相互作用などによって試料表面の局所的な物理量変化の分布を測定する顕微鏡の総称です。

走査型電子顕微鏡 SEM･透過電子顕微鏡 TEM の製品一覧です。各メーカー別に製品を紹介します。走査型電子顕微鏡 SEM は細く絞った電子ビームを試料表面上で走査し，二次電子像を得る顕微法です。透過電子顕微鏡 TEM は電子線が磁場によって屈折する現象を利用した電子レンズを用いて，試料を透過させた電子線を結像拡大する装置です。

原子間力顕微鏡 AFM の製品一覧です。各メーカー別に製品を紹介します。原子間力顕微鏡 AFMは，片持ち梁の先端に取り付けられた探針を試料表面に近接して走査し，探針-試料表面間の作用力によって生ずる片持ち梁の曲げ変位やねじれ変位を測定して表面の原子配列像や凹凸分布などを観測する顕微鏡です。

真円度・円筒度測定機 の製品一覧です。各メーカー別に製品を紹介します。真円度は，制作された円形部分の内接または外接する幾何学的な円からの対応する点相互のラジアル方向における最大距離。円筒度は，制作された円筒部分と内接または外接する幾何学的な円筒の，面上の各点との間の各ラジアル平面内での最大のラジアル方向の距離。

非接触式表面形状・粗さ測定機 の製品一覧です。各メーカー別に製品を紹介します。非接触式表面形状・粗さ測定機は，基準面／被測定面間の電気容量や被測定面の光の散乱状態から間接的に表面形状・粗さを測定する機器です。

触診式表面形状粗さ測定機 の製品一覧です。各メーカー別に製品を紹介します。触針式表面形状・粗さ測定機は，サファイアなどの針を極めて軽い荷重で接触させる，または光の微小スポットを当てることで，針先または焦点位置の垂直変位を検出して表面形状・粗さを測定する装置です。

表面試験測定分析BOX は，物質の表面試験・測定・分析に関わる機器を，表面形状・粗さ測定機，表面分析機器，機械特性測定機器などに分類，一覧にして紹介します。