ブルカー／ナノ表面計測事業部
原子間力顕微鏡（AFM） Dimension XR
大型試料対応汎用原子間力顕微鏡システム Dimension Edge
ナノインデンテーション ハイジトロン TI990
ナノインデンテーション ハイジトロン TI Premiar
SEM / TEM電子顕微鏡組込み型 ピコインデンターシリーズ
走査型プローブ顕微鏡 MutiMode8
走査型プローブ顕微鏡 Byoscope Catalyst
走査型プローブ顕微鏡 Innova
オックスフォード・インストゥルメンツ
Jupiter XR（大型試料対応 高速AFM）
Cypherシリーズ AFM（超高性能AFM）
MFP-3Dシリーズ（基礎研究に最適なAFM）
alpha300 RA（AFMラマン複合装置）
日本電子
表面形状観察機
パーク・システムズ・ジャパン
FX40, NX10, NX12, NX7（小型サンプル対応原子間力顕微鏡）
NX20, NX20 300mm, NX20 Lite（大型サンプル対応原子間力顕微鏡）
NX-Mask, NX-Wafer, NX-Hybrid, NX-3DM, NX-Hybrid WLI, NX-TSH（インライン用フルオートメーション原子間力顕微鏡）
NX-Hivac（高真空原子間力顕微鏡）
日立ハイテクサイエンス
走査型プローブ顕微鏡
