走査型電子顕微鏡 SEM･透過電子顕微鏡 TEM

表面分析機器のうち，走査型電子顕微鏡 SEM･透過電子顕微鏡 TEMを紹介します。下記のボタンから表面分析機器の関連製品一覧を切替えられます。

走査型電子顕微鏡 SEM（scanning electron microscope）は，細く絞った電子ビームを試料表面上で走査し，二次電子像を得る顕微法です。摩擦面など凹凸の激しい試料に適しています。

透過電子顕微鏡 TEM（transmission electon microscopy）は，電子線が磁場によって屈折する現象を利用した電子レンズを用いて，試料を透過させた電子線を結像拡大する装置です。グリース中の固体成分や無機成分および有機質の微粒子の形態観察に適しています。

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