二次イオン質量分析 SIMS・飛行時間型二次イオン質量分析 TOF-SIMS
表面分析機器のうち,二次イオン質量分析 SIMS・飛行時間型二次イオン質量分析 TOF-SIMSを紹介します。下記のボタンから表面分析機器の関連製品一覧を切替えられます。
二次イオン質量分析 SIMS(secondary ion mass spectroscopy)は,収束したイオンビームを固定表面に照射し,スパッタリングにより生じた二次イオンを質量分析して表面を分析する方法です。
二次イオン質量分析 SIMS・飛行時間型二次イオン質量分析 TOF-SIMSの一覧表
会社別の二次イオン質量分析 SIMS・飛行時間型二次イオン質量分析 TOF-SIMSの一覧です。
日本電子
表面存在元素分析機
表面2次元元素分布測定機
表面化学結合状態測定機
深さ方向分析機
断面分析機