二次イオン質量分析 SIMS・飛行時間型二次イオン質量分析 TOF-SIMS | 表面試験測定分析BOX | ジュンツウネット21

二次イオン質量分析 SIMS・飛行時間型二次イオン質量分析 TOF-SIMS

表面分析機器のうち,二次イオン質量分析 SIMS・飛行時間型二次イオン質量分析 TOF-SIMSを紹介します。下記のボタンから表面分析機器の関連製品一覧を切替えられます。

二次イオン質量分析 SIMS(secondary ion mass spectroscopy)は,収束したイオンビームを固定表面に照射し,スパッタリングにより生じた二次イオンを質量分析して表面を分析する方法です。

二次イオン質量分析 SIMS・飛行時間型二次イオン質量分析 TOF-SIMSの一覧表

会社別の二次イオン質量分析 SIMS・飛行時間型二次イオン質量分析 TOF-SIMSの一覧です。

東陽テクニカ
Mini-SIMS型


日本電子
表面存在元素分析機
表面2次元元素分布測定機
表面化学結合状態測定機
深さ方向分析機
断面分析機



アントンパール・ジャパン
○アントンパール・ジャパン
ナノインデンテーションテスター,スクラッチテスター,カロテスト

http://www.csm-instruments.com/ja

新東科学
○新東科学
連続加重式引掻強度試験機

http://www.heidon.co.jp/

スペクトリス PANalytical事業部
○スペクトリス PANalytical事業部
X線小角散乱測定装置,エネルギー分散型蛍光X線分析システム

http://www.panalytical.jp

ナノテック
○ナノテック

http://www.nanotec-jp.com/

協和界面科学
○協和界面科学
摩擦摩耗解析装置,接触角計,表面張力計

http://www.face-kyowa.co.jp

エリオニクス
○エリオニクス
押し込み硬さ試験機,表面力測定装置,走査電子顕微鏡

http://www.elionix.co.jp/


○ブルカージャパン ナノ表面計測事業部
3次元光干渉粗さ計,原子間力顕微鏡システム,走査型プローブ顕微鏡

http://www.bruker-nano.jp/