• トライボ要素
• 表面分析
• 表面分析機器

ナノ力学特性評価

多目的に使用できるよう基本設計がなされているので，一般的な評価については，幅広く対応可能。また，多様なアップグレードオプションを追加することにより，将来的なニーズにも対応できる

用途

• 準静的ナノインデンテーション：薄膜や不均質な材料のナノ力学特性評価が可能
• 高温ナノインデンテーション：高温領域における力学特性や時間依存性変形の測定が可能
• 動的ナノイデンテーション：柔らかい材料から硬い材料まで，幅広い材料の動的力学特性評価が可能
• マルチ変位スケールナノインデンテーション：ナノスケールからマイクロスケールまで幅広い変位レンジでの測定が可能

評価モード

準静的ナノインデンテーション
弾性率，硬さ，破壊靭性などの様々な力学特性の定量的な評価が可能。

In-Situ SPM イメージング
試験に使用する圧子を用いて，試料表面を走査し，SPMイメージング像を取得する機能を搭載。これにより高い精度での測定箇所の指定が可能，試験前後での材料の変形挙動の観察を迅速に行うことができる。また，表面粗さも算出可能。

ナノウエア（ナノ摩耗試験）
サンプルに負荷する荷重を正確にコントロールする技術により，ナノスケールでの摩耗試験を行うことができる。最大100μNの荷重で様々な材料の摩耗特性を評価可能。

仕様

＜アップグレードオプション＞

• xSol 環境制御ステージ：低温から高温まで。湿度，雰囲気ガスの制御も可能
• nanoDMA III：ナノスケールの動的粘弾性評価技術
• Modulus Mapping™：試料表面の弾性率を定量的かつ高分解能でマッピング
• TriboAE：In-Situでアコーステック・エミッション測定を実施
• TriboImage™：時間分解で摩擦／摩耗特性をマッピング
• nanoECR：In-Situで電気接触抵抗を測定
• プローブ：測定用途に合わせた様々なプローブを用意
• MultiRange NanoProbe™：変位センサーを用いたマイクロインデンテーションが可能
• xProbe：AFMレベルの分解能で定量的なナノインデンテーション試験が可能
• iTF：薄膜のナノ力学特性を定量化する特許技術
• 電気化学セル：液中でナノ電気化学特性とナノ力学特性評価を同時に測定
• 2Dトランスデューサー：スクラッチによるナノ力学特性およびナノトライボロジー特性評価が可能
• サンプルチャック：サンプルに応じた形状，固定手法のチャックを用意

製品提供元のリンク情報

• icon-caret-right ブルカージャパン ナノ表面計測事業部

ブルカー・エイエックスエスの製品一覧へ
ブルカージャパン ナノ表面計測事業部の会社概要