Dimension XR | 原子間力顕微鏡 | ブルカージャパン ナノ表面計測事業部

Dimension XR | 原子間力顕微鏡 | ブルカージャパン ナノ表面計測事業部

ブルカージャパン ナノ表面計測事業部のDimension XR(ディメンションXR)は,原子間力顕微鏡(AFM)です。FastScanとIcon AFMをベースに3つの異なる構成でパッケージ化しています。

原子間力顕微鏡

FastScanとIcon AFMをベースに,ナノメカニカル,ナノ電気,ナノ電気化学特性の研究のためのパッケージソリューションを提供し,大気,液中,電気または化学反応環境下における材料および活性ナノスケールシステムの定量化を実現

用途

  • XR Nanomechanics:ナノスケール特性評価
  • XR Nanoelectrical:電気特性計測
  • XR NanoEC:電気化学,電気特性,および機械特性マッピングを同時に計測

特長

Dimension XR Nanomechanics

  1. 柔らかく粘性の高いハイドロゲルやコンポジット材料から,硬い金属やセラミクスまでの材料のナノメカニカル特性を定量的に迅速に評価するためのナノメカニクス特性評価パッケージ
  2. ポリマーの線形領域のレオロジー関連周波数において,完全かつ定量的なナノスケールの粘弾性測定を提供
  3. ポリマー鎖のサブ分子単位まで測定可能な空間分解能で,最小構造を包括的に検出するための各レンジに対応する一連のモードを提供

Dimension XR Nanomechanics

Dimension XR Nanoelectrical

  1. 単一システムで、最も多くの種類のナノ電気特性計測をカバー
  2. DataCubeモードは,すべてのピクセルで電気スペクトル情報を取得し,電気特性とメカニカル特性の多次元・多チャンネル測定が可能
  3. 多次元スペクトル情報の取得を1回の測定で実現

Dimension XR Nanoelectrical

Dimension XR Nanoelectrochemical(NanoEC)

  1. 電気化学環境下および揮発性溶媒中における長時間の電極反応実験のために設計
  2. 堅牢なAFMベースの走査型電気化学顕微鏡(AFM-SECM)と電気化学AFM(EC-AFM)が可能
  3. <100nmの空間分解能で電気化学情報を取得
  4. 溶液中で電気化学,電気特性,および機械特性マッピングを同時に計測

Dimension XR Nanoelectrochemical(NanoEC)

○多くのオプション機能を追加することが可能


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最終更新日:2020年4月15日