Contour X | 3次元白色光干渉型顕微鏡 | ブルカージャパン ナノ表面計測事業部

Contour X | 3次元白色光干渉型顕微鏡 | ブルカージャパン ナノ表面計測事業部

ブルカージャパン ナノ表面計測事業部のContour X(コンターX)は,3次元白色光干渉型顕微鏡です。超鏡面から粗面までの粗さ測定や段差測定に最適です。

3次元白色光干渉型顕微鏡

超鏡面から粗面までの粗さ測定や段差測定に最適な3次元白色干渉粗さ計

用途

各種3D計測:表面微細形状(粗さ),形状,段差計測

特長

  1. 研究開発において確実な表面形状・粗さ評価を可能にする高正確性と高再現性測定能力を提供
  2. あらゆる3D光学顕微鏡で,最高水準の縦・横分解能を実現
  3. シンプル操作で直観的に使える特性分析と解析を簡単にするユーザーフレンドリーなインターフェース
  4. サンプルに応じて柔軟に調整できるチルトヘッド構造と耐荷重の高い自動ステージ仕様
  5. これまでわからなかった細部を明らかにするカラー&グレースケールイメージング
  6. シームレスに統合された真のカラーイメージング,カラーセグメンテーション計測機能
  7. 最速のデータ取得時間を誇る非破壊・高速3D測定により研究及び製造上の複雑な難問を迅速に解決

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    icon-building会社名ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部
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    FAX 03-3523-6364
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    icon-inboxメールInfo-Nano.BNS.JP@bruker.com

    最終更新日:2022年6月22日